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智能产品和NB-lOT产品研发测试技术交流会---上海

Thu, 28 Dec 2017 13:00:00 GMT+08 ~ Thu, 28 Dec 2017 17:30:00 GMT+08
《新电子》杂志

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       智能产品和无线物联网无疑是市场上的热门话题。 众多的厂家正在把物联网植入传统 的产品中, 从而使传统的产品更智能化, 也更具竞争力。 例如智能抄表、智能传感器、 智能医疗和智能家居等, 正在依靠新的技术产生革命性的变革

    但我们也看到, 当把新的技术植入到传统产品中时, 并不是简单的一加一等于二这么 简单。有许多技术问题和细节需要特别关注,包括与电池长时间工作寿命相关的电池性能、 功耗特性、电源和器件特性、快充技术, 以及射频通信性能、电磁兼容等。 这无疑也是传 统产品即将经历的一次技术革命。

        是德科技愿意借此机会与您一起探讨解决之道。 如果您正在从事智能产品的研发, 或 者正在把华为、中兴等供应商的 NB-IoT 模块植入您的产品中, 相信您不会轻易放弃这次机会!

    活动流程:

    13:00

    签到

    13:30

    Opening

    13:40

    专题1:从电池性能分析到精确功耗测试和优化, 提升产品的续航时间

    14:20

    专题2:智能产品和物联网的电源模块和功率器件测试  

    15:00

    专题3:无线充电的测试

    15:40

    Break

    15:50

    专题4:物联网无线连接技术和射频测试

    16:30

    专题5:基于便携式仪表对物联网现场环境及设备组件维护测试

    17:10

    会议结束



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