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8.31南京丨NI半导体测试技术创新论坛等您来!

2018年8月31日 14:00 ~ 2018年8月31日 17:30

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    在物联网,毫米波,硅光子,人工智能等技术的推动下,国家大力发展半导体产业,中国半导体行业正迎来新一轮发展机遇。而在这些新技术在攻坚突破的同时,全行业也努力满足对芯片更高性能、更小尺寸、更低成本等要求,这些无一不让从业者面临着更严峻的技术和市场,产业人才也需和业界良好对接。


    芯片测试作为半导体行业关键一环,我们将深入探讨如何在实验室V&V验证、晶圆及封装测试中进一步降低成本提高上市时间,针对于RFICADC等混合信号芯片探讨如何通过PXI平台化方法降低从实验室到量产测试成本、提高测试效率等,NI与合作伙伴,华兴源创,全球仪器,博达微科技共同邀请您参与此次研讨会,共建良好半导体测试生态体系。



    南京站

    时间:2018831  周五 14:00~17:30

    地点:南京集成电路产业服务中心(ICisC)人才实训基地(南京市江北新区星火路15号智芯科技楼)

     



    热门议题提前知

    从实验室测试台到量产ATENI平台化方法突围半导体测试市场

    芯片复杂度和集成度在近年逐渐攀升,高集成度芯片让测试项目变得更加复杂,SiP等新封装形式也需要用新的测试手段来应对。针对不论是实验室V&V,到晶圆级测试,再到封装测试,平台化测试系统方法开启了全新思路。本议题讲讨论如何通过平台化方法降低测试成本,提升效率,让芯片测试不再困难。



    RFIC射频前端及毫米波IC测试技术

    现代的射频前端模块越来越多地将更多模块(如功率放大器,低噪声放大器(LNA),双工器和天线开关)封装到单个组件中。而前端模块对多模多频段的支持也增加了整个测试的复杂性。

     

    NI提供从射频前端模块测试,分立射频元件,射频收发机到射频MCU的领先RFIC测试解决方案。基于模块化平台设计,NI RFIC解决方案能轻松实现从实验室特征分析到量产测试的快速转换,大幅减少测试时间和成本。

     

    另外,NI自早期的5G原型探索设计以来深度参与合作的NI 继续为商用化5G芯片保驾护航,从已经sub-6GHz到毫米波,我们也将同时深入探讨5G NR测试关键技术,包括sub-6GHz 射频前端测试技巧,毫米波OTA、波束成形测试等。

     

     

    GIT全球仪器: 基于模块化仪器的系统级PA验证方案

    高精度、高速数据转换芯片测试对于测试仪器的成本居高不下,价格昂贵的信号源和测试时间一直无法得到有效的平衡。本议题将介绍如何巧用仪器,通过模块化仪器方法将仪器有效整合,通过高精度同步技术及高性能仪器,并在软件上快速实现INL、DNL及动态特性分析,快速实现实验室ADC/DAC芯片搭建。



    高精度、高速ADC/DAC关键测试技术

    高精度、高速数据转换芯片测试对于测试仪器的成本居高不下,价格昂贵的信号源和测试时间一直无法得到有效的平衡。本议题将介绍如何巧用仪器,模块化仪器方法将仪器有效整合,通过PXI高精度同步与定时技术及高性能仪器,并在软件上快速实现INL、DNL及动态特性分析,快速实现实验室ADC/DAC芯片搭建。

     

     

    博达微科技:基于机器学习的参数化测试与分析系统

    博达微自主研发的基于深度学习算法的behavior-aware(行为感知)的测试技术和信号稳定时间预测技术应用于半导体参数化测试系统FS Pro(基于NI的SMU模块),实现智能测试方案,实现最快的IV / CV测试与表征,ü最快的1 / f噪声测量,ü 最简单的基于模块化结构的可重配置设计,以及最简单的基于统一软件平台的测试控制与管理。



    南京研讨会日程:

    Time

    Session

    Speaker

    14:00

    |

    14:20

    主题演讲:从实验室测试台到量产ATE,NI平台化方法突围半导体测试市场

    NI亚太区半导体市场经理

    潘建安

    14:20

    |

    15:00

    5GNR射频前端及毫米波芯片测试技巧

    苏州华兴源创

    15:00

    |

    15:40

    高精度、高速ADC/DAC测试典型参数与技巧

    NI技术市场

    15:40

    |

    16:10

    专家技术咨询

    实验室及量产IC测试实战演示

    休息

    NI及合作伙伴

    16:10

    |

    16:40

    加速实验室验证射频前端FEM测试:基于模块化仪器的系统级PA验证方案

    GIT全球仪器

    16:40

    |

    17:20

    博达微科技:基于机器学习的参数化测试与分析系统

    博达微科技

    17:30

    Q&A及抽奖



    活动日期:2018年8月31日 周五下午14:00 -17:00

    【联合主办】:上海恩艾仪器有限公司

                  南京集成电路产业服务中心

    【承办单位】:智芯国信

                  瑞同科技传媒




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