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NI半导体测试VIP高峰论坛

2017年10月25日 13:00 ~ 2017年10月25日 17:00

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        NI半导体测试VIP高峰论坛谨订于 2017 年 10月 25日(周三)下午在上海浦东嘉里大酒店举行。此次半导体测试VIP高峰论坛,特别邀请国际市场研究机构 IHS半导体制造领域资深分析师、前无线通信芯片大厂工程总监分享实践经验。同时半导体产业主管与高阶经理人将齐聚一堂,透过多元交流方式让您掌握市场脉动、获得半导体行业内宝贵的观点分享。

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    13:00-13:20

    注册与报到

    13:20-13:30

    欢迎致词

    13:30-14:20

    眺望半导体产业成长动能

      – IHS 半导体资深分析师

    14:20-15:00

    精打细算测试总体成本通用ATE vs DIY ATE

      – NI半导体业务拓展经理

    15:00-15:15

    茶歇/ 与会人士交流

    15:15-15:40

    智能传感器的量产测试

      上海申硅凌微电子科技总经理

    15:40-16:05

    平台基础对半导体测试的重要性

    郑朝晖 上海芯导电子副总经理

    16:05-16:35

    应用 NI 平台开发半导体测试机经验分享

    陈建铭台湾思卫科技技术副总经理

    16:35-16:50

    茶歇/ 与会人士交流

    16:50-17:30

    微波射频探针技术分析与实践从实验室到量产

    Cascade 技术经理

    17:30-17:40

    结语

    *办单位保有活动程之

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    上海市浦东新区花木路1388号  - 上海浦东嘉里大酒店  多功能厅  

            

    于此我们再次诚挚邀请您能拨冗出席本次论坛,携手NI推动半导体测试新高峰。此次活动为邀请制,请携带此邀请函出席。若有任何疑问,敬请随时与我们联系。 

    特此邀请,静候覆音

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    National Instruments 大中华区半导体业务拓展经理



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