NI半导体测试VIP高峰论坛谨订于 2017 年 10月 25日(周三)下午在上海浦东嘉里大酒店举行。此次半导体测试VIP高峰论坛,特别邀请国际市场研究机构 IHS半导体制造领域资深分析师、前无线通信芯片大厂工程总监分享实践经验。同时半导体产业主管与高阶经理人将齐聚一堂,透过多元交流方式让您掌握市场脉动、获得半导体行业内宝贵的观点分享。
时 间 | 讲 题 与 讲 者 | |
13:00-13:20 | 注册与报到 | |
13:20-13:30 | 欢迎致词 | |
13:30-14:20 | 眺望半导体产业成长动能 | 何 晖 – IHS 半导体资深分析师 |
14:20-15:00 | 精打细算测试总体成本:通用ATE vs DIY ATE | 何 为 – NI半导体业务拓展经理 |
15:00-15:15 | 茶歇/ 与会人士交流 | |
15:15-15:40 | 智能传感器的量产测试 | 王 玉 – 上海申硅凌微电子科技总经理 |
15:40-16:05 | 平台基础对半导体测试的重要性 | 郑朝晖 – 上海芯导电子副总经理 |
16:05-16:35 | 应用 NI 平台开发半导体测试机经验分享 | 陈建铭 – 台湾思卫科技技术副总经理 |
16:35-16:50 | 茶歇/ 与会人士交流 | |
16:50-17:30 | 微波射频探针技术分析与实践–从实验室到量产 | Cascade 技术经理 |
17:30-17:40 | 结语 | *主办单位保有调整活动议程之权利 |
上海市浦东新区花木路1388号 - 上海浦东嘉里大酒店 多功能厅
于此我们再次诚挚邀请您能拨冗出席本次论坛,携手NI推动半导体测试新高峰。此次活动为邀请制,请携带此邀请函出席。若有任何疑问,敬请随时与我们联系。
特此邀请,静候覆音
National Instruments 大中华区半导体业务拓展经理