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英国比克科技将于2017年3月1日在上海举办中国首届测试测量技术研讨会，倾听您的问题和期待，分享比克科技的技术和方案，消除您的困难和烦恼。无论您是从事电源的设计，还是嵌入式系统的开发；无论您是系统集成工程师，还是汽车电子工程师；无论您是关注低速总线的测试，还是高速信号的分析；也无论您是想了解电子测量的最新动态和发展趋势，还是看看有什么新鲜有趣的东西。这都将是一场您不容错过的技术盛会！
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时间安排 |
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1:00-1:15 PM |
1 |
注册登记 |
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1:15-2:15 PM |
2 |
英国比克科技公司及产品介绍 |
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2:15-2:35 PM |
4 |
USB3.0接口/长存储（2GS）/快刷新/高精度（16Bits）/8Bits-16Bits可调分辨率/SDK自定义编程开发等 |
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2:35-3:00 PM |
5 |
比克示波器（PicoScope）中的异常信号定位与调试功能介绍及演示 |
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3:00-3:15 PM |
CoffeeBreak |
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3:15-3:45 PM |
6 |
针对嵌入式系统/电源/汽车/航空/音频/传感器/放大器等数字和模拟应用的测试解决方案 |
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3:45-4:15 PM |
7 |
针对高速串行电信号/光信号（眼图/抖动/消光比等）的测试解决方案 |
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4:15-4:45 PM |
8 |
针对线缆/连接器/PCB板（TDR/TDT）的测试解决方案 |
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4:45-5:00 PM |
9 |
幸运抽奖/ Q&A |
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