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活动背景
近年来,国内IC产业发展迅猛,国家在集成电路(IC)产业也大力扶持,半导体行业在未来的10到20年内或将成为国家的支柱性型产业,从目前的全国各地大举建造半导体工厂就可见一斑,半导体的高速发展必然会推动其测试技术的发展,从分立器件到简单的模拟芯片,从低频模拟器件到混合信号芯片,再到RF,到SOC器件,这每一次的芯片发展都给测试带来了巨大的挑战,测试的挑战不仅仅在于可以满足参数的测试,更重要的在于能否精准的,高效的,低成本的把测试解决。随着芯片的复杂度越来越高,有别于ATE量产测试的失效分析测试,也逐渐引起业界的注意,目前的失效分析已经不仅仅依靠简单的X-RAY,Decap手段,还有更多的工具和手段进行更细致的分析。所以本次研讨会我们邀请了业界资深人士,针对RF器件测试,混合信号测试以及失效分析测试做一个典型的技术探讨,相信这又是一次极难得的技术提高机会,各位业界同仁千万别错过!
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时间地点
沙龙时间:2018年11月24日(周六) 13:30-17:30
沙龙地点:上海浦东新区张江高科技园区碧波路635号传奇广场3楼IC咖啡(地铁2号线张江高科站5号口出)
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日程安排
本次研讨会的赞助商也是非常有爱心,为大家准备了异常丰富的礼品, 暂定的赞助商如下,同仁们多支持。
特别说明:由于本活动是公益活动,以技术交流为主,故销售人员需要参加,费用为¥100每人,且限额10名,敬请理解~~
为保证研讨质量,本次研讨会限额130人,报名截止日期11月23日,先报先得,大家抓紧……