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芯片可测试性设计（DFT）方法论及其流程管理
Thu, 07 Mar 2024 18:30:00 GMT+08 ～ Sun, 10 Mar 2024 20:30:00 GMT+08
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随着集成电路制造工艺的不断演进，芯片集成度和复杂度呈现急剧飙升态势，芯片制造出来后出现各种故障的概率也越来越高。面对挑战，可测性设计技术的重要性和难度日益凸显。如何在质量、成本、进度和风险之间权衡及优化，以达到最优项目管理已经成为可测试性设计必须要考虑的范畴。
活动时间：2024年3月7日（周四）18:30 - 20:30
活动地点：上海市浦东新区张东路1387号21幢203室（IC咖啡）
活动议程：
18:00-18:45 入场签到
18:45-19:00 破冰之旅
19:00-20:00 主题演讲：芯片可测试性设计（DFT）方法论及其流程管理
20:00-20:30 自由交流/结束
嘉宾介绍：
乐 彬
上海敦观科技有限公司 创始人
- 2002年，毕业于华中科技大学，工学硕士；
- 2002-2010年，就职于华为，海思早期DFT流程的开发者和培训师，并曾跨部门任职售前投标经理；
- 2011-2023年，曾就职于英伟达/LSI/博通,Principal DFT lead。
组织单位
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